本学教員と学生との論文が2012年度 IEEE Reliability Society Japan Chapter 論文賞に選ばれ、平成25年6月15日(土)、受賞記念講演が行われました。
これまで、短期間で機器や材料の寿命や破壊値を推定するために「段階的上昇法」という試験法が用いられ、その数理モデルには「蓄積疲労モデル」が多く使われていました。しかし、観測データにはこのモデルで説明できない部分があり、今回、蓄積疲労モデルを含む「拡張蓄積疲労モデル」ECEMを提案したところ、このモデルにより今まで説明できなかった現象が説明できる可能性を示しました。(Hirose, Sakumura, IEEE Trans. on Reliability)
ECEMのアイデアに対しては、昨年に引き続きこれで3回目の受賞になります。

〔受　賞　者〕　大学院 情報工学研究院　システム創成情報工学研究系
廣　瀬　英　雄　教授
大学院 情報工学府 情報科学専攻　博士後期課程3年
作　村　建　紀 さん